Single-Event Upset

Single-Event Error(SEE)로도 알려져있는 이 현상은 이온화 입자 하나가 마이크로 전자 기기(마이크로프로세서, 반도체 메모리, 파워 트랜지스터 등)의 중요한 노드를 때려 상태 변화를 유발하는 것을 의미한다.

실제 기록된 사건은 다음과 같다.